集成电路检测常识：1、要保证焊接质量，焊接时确实焊牢，焊锡的堆积、气孔容易造成虚焊。焊接时间一般不超过3秒钟，烙铁的功率应用内热式25W左右。已焊接好的集成电路要仔细查看，较好用欧姆表测量各引脚间有否短路，确认无焊锡粘连现象再接通电源。2、测试仪表内阻要大，测量集成电路引脚直流电压时，应选用表头内阻大于20KΩ/V的万用表，否则对某些引脚电压会有较大的测量误差。3、要注意功率集成电路的散热，功率集成电路应散热良好，不允许不带散热器而处于大功率的状态下工作。4、引线要合理，如需要加接外部元件代替集成电路内部已损坏部分，应选用小型元器件，且接线要合理以免造成不必要的寄生耦合，尤其是要处理好音频功放集成电路和前置放大电路之间的接地端。集成电路的制造需要经过硅片晶圆加工、光刻和化学蚀刻等多个工序。TUSB1211A1ZRQR
其中，封装、无铅信息、包装形式，我们统称为包装信息，这三个模块就组成一条公式，可以解析大多数芯片的命名规则。值得注意的是，然后一个温度、速度、包装，我们当成一个部分来理解，因为有的品牌，结尾可能都囊括了这三点，或者只有其中一点，所以这里我们就假设它是一个可变状态。我们拿实际案例来看下，NXP恩智浦，型号：MC9S08AC60CFGE。MC是飞思卡尔的前缀，9S08AC是产品的家族系列，对应我们头一部分——品牌系列，中间段60，表示内存60KB，则为参数，C表示温度，FG表示封装，E表示无铅，对应了第三部分。TUSB1211A1ZRQR二极管可实现电流的单向导通，晶体管则可实现电流的放大和开关控制。
世界集成电路产业结构的变化及其发展历程，自1958年美国德克萨斯仪器公司(TI)发明集成电路（IC）后，随着硅平面技术的发展，二十世纪六十年代先后发明了双极型和MOS型两种重要的集成电路，它标志着由电子管和晶体管制造电子整机的时代发生了量和质的飞跃，创造了一个前所未有的具有极强渗透力和旺盛生命力的新兴产业集成电路产业。回顾集成电路的发展历程，我们可以看到，自发明集成电路至今40多年以来，"从电路集成到系统集成"这句话是对IC产品从小规模集成电路（SSI）到这里特大规模集成电路（ULSI）发展过程的较好总结，即整个集成电路产品的发展经历了从传统的板上系统（System-on-board）到片上系统（System-on-a-chip）的过程。
集成电路检测常识：严禁在无隔离变压器的情况下，用已接地的测试设备去接触底板带电的电视、音响、录像等设备，严禁用外壳已接地的仪器设备直接测试无电源隔离变压器的电视、音响、录像等设备。虽然一般的收录机都具有电源变压器，当接触到较特殊的尤其是输出功率较大或对采用的电源性质不太了解的电视或音响设备时，首先要弄清该机底盘是否带电，否则极易与底板带电的电视、音响等设备造成电源短路，波及集成电路，造成故障的进一步扩大。集成电路的可编程特性可以在生产后进行固件更新和功能扩展。
常见的封装类型包括:1.SOT-223封装:这是一种表面安装型的封装形式，尺寸为6.5mmx6.5mmx3.0mm，有5个引脚，它通常用于小型和中型电路板上的低功率应用。2.DDPAK封装:这是一种表面安装型的封装形式，尺寸为10.28mmx12.19mmx4.32mm，有5个引脚。它适用于高功率应用和大型电路板上的使用3.HTSSOP封装:这是一种表面安装型的封装形式，尺寸为5mmx6.4mmx1.2mm，有16个引脚。它通常用于中等功率和复杂性的应用。除了这些常见的封装形式外，TPS7A88芯片还提供了其他一些特殊封装形式，如T0-220封装、S0IC封装等，以满足不同客户的需求。SN或SNJ表示TI型号的品牌。TUSB1211A1ZRQR
电子元器件的工作温度范围是其能够正常工作的限制因素之一。TUSB1211A1ZRQR
IC的第三次变革："四业分离"的IC产业，90年代，随着INTERNET的兴起，IC产业跨入以竞争为导向的高级阶段，国际竞争由原来的资源竞争、价格竞争转向人才知识竞争、密集资本竞争。以DRAM为中心来扩大设备投资的竞争方式已成为过去。如1990年，美国以Intel为表示，为抗争日本跃居世界半导体榜首之威胁，主动放弃DRAM市场，大搞CPU，对半导体工业作了重大结构调整，又重新夺回了世界半导体霸主地位。这使人们认识到，越来越庞大的集成电路产业体系并不有利于整个IC产业发展，"分"才能精，"整合"才成优势。TUSB1211A1ZRQR
