浙江国内电阻测试系统解决方案

PCB/PCBA绝缘失效是指电介质在电压作用下会产生能量损耗，这种损耗很大时，原先的电能转化为热能，使电介质温度升高，绝缘老化，甚至使电介质熔化、烧焦，**终丧失绝缘性能而发生热击穿。电介质的损耗是衡量其绝缘性能的重要指标，电介质即绝缘材料，是电气设备、装置中用来隔离存在不同点位的导体的物质，通过各类导体间的绝缘隔断功能控制电流的方向。电介质长期受到点场、热能、机械应力等的破坏。在电场的作用下，电介质会发生极化、电导、耗损和击穿等现象，这些现象的相关物理参数可以用相对介电系数、电导率、介质损耗因数、击穿电压来表征。智能电阻具有更加丰富的功能和应用场景。浙江国内电阻测试系统解决方案

10、在500小时的偏压加载后，可以进行额外的T/H/B条件。然而，**少要进行500小时加载偏置电压的测试，来作为CAF测试的结果之一。11、在确定为CAF失效之前，应该确认连接线两端的电阻是不是要小于菊花链区域的电阻。做法是将菊花链附近连接测试线缆的线路切断。所有的测试结束后，如果发现某块测试板连接线两端的电阻确实小于菊花链区域的电阻，那么这块测试板就不能作为数据分析的依据。常规结果判定：1.96小时静置后绝缘电阻R1≤107欧姆，即判定样本失效；2.当**终测试绝缘电阻R2<108欧姆，或者在测试过程中有3次记录或以上出现R2<108欧姆即判定样本失效。浙江国内电阻测试系统解决方案很多用户在使用电阻测试设备过程中会遇到各种问题。

从监控的方式看（除阻值监控外）：ECM/SIR可以通过放大镜进行直观的判断；而CAF只能通过破坏性的切片进行微观条件下的分析；ECM/SIR与CAF的重要性由于介电层变薄、线路及孔距变密是高密度电子产品的特性，而大多数的高阶电子产品也需要较高的信赖度，故越来越多的产品被要求进行ECM/SIR/CAF测试，如航空产品、汽车产品、医疗产品、服务器等，以确保产品在相对恶劣的使用条件下的寿命与可靠性；离子迁移既然是绝缘信赖度的***，因此高密度电子产品都十分在乎及重视材料的吸水性及水中不纯物的控管，因为这些正是离子迁移的重要元凶。例如：加水分解性氯、电镀液中的盐类、铜皮表面处理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了这些控管，导致ECM或CAF的生成，便会造成产品在使用寿命及电性功能上的障碍；藉着控制卤素及金属盐类的含量、铜皮上的铬含量、树脂中的氯含量、表面清洁度（防焊前处理），这些对绝缘劣化影响很大的项目，可以大幅提升高密度电路板的信赖性。

除杂PCB制程中若出现杂质或残铜，清洁处理不当后，将金属盐类残留在板面上。一旦吸潮或分层吸湿，便会形成CAF问题。因此需调整参数避免残铜，同时改进清洗方法并充分清洁。评估CAF的方法：离子迁移评价通常使用梳型电路板为试料，将成对的电极交错连接成梳形图案，在高温高湿的条件下给予一固定之直流电压，经过长时间之测试，并观察线路是否有瞬间短路之现象。针对CAF引起的失效现象，一般采用的方法是逐步缩小范围的方法；失效样品先测试电阻》》用显微镜观察，找出大概失效的位置》》退掉表面的绿油》》再观察具体的位置》》磨切片观察失效发生的原因表面绝缘电阻（SIR）测试可以用来评估金属导体之间短路或者电流泄露造成的问题。

离子迁移（ECM/SIR/CAF)的要因分析与解决方案从设计方面：越小的距离（孔~孔、线~线、层~层、孔~线间）越易造成离子迁移现象；解决方案：结合制程能力与材料能力，优化设计方案；（当然重点还是必须符合客户要求）玻纤纱束与孔排列的方向；纱束与孔的方向一致时，会造成离子迁移的可能性比较大；解决方案：尽可能避免或减少纱束与孔排列一致的可能性，但此项受客户产品设计的制约；产品的防湿保护设计；解决方案：选择比较好的防湿设计，如涉及海运，建议采用PE袋或铝箔袋包装方式；提供质量的售后服务对于电阻测试设备的供应商来说至关重要。浙江国内电阻测试系统解决方案

SIR表面绝缘电阻测试的目的之一：变更回流焊或波峰焊工艺。浙江国内电阻测试系统解决方案

Sir电阻测试是一种常用的电阻测试方法，它可以用来测量电路中的电阻值。在电子工程领域中，电阻是一种常见的电子元件，它用来限制电流的流动。因此，了解电路中的电阻值对于电子工程师来说非常重要。Sir电阻测试是一种非接触式的测试方法，它利用电磁感应原理来测量电路中的电阻值。这种测试方法不需要直接接触电路，因此可以避免对电路的损坏。同时，Sir电阻测试还具有高精度和高速度的优点，可以更加快速准确地测量电路中的电阻值。浙江国内电阻测试系统解决方案