甘肃纳米粒度分析仪哪家好

标定CPS使用的标定颗粒都与美国标准和技术研究院(NIST)的其它标准进行过交叉对比，确保均值、峰宽或者半峰宽等方面的误差在±2%之内，而且颗粒的团聚性也符合要求。可选标定颗粒：直径小于10微米的标定颗粒通常以悬液的形式保存在水中，当然也可以保存在非水基悬液中。大于10微米可以有三种形态，水基悬液，非水基悬液或者干粉状态。每一套标定颗粒都有其粒度分析结果和分析证书。应用实例：PEDOT及其复合材料的粒径测量PEDOT是EDOT(3,4-乙撑二氧噻吩单体)的聚合物，PEDOT具有高电导率、高度的环境稳定性。驰光机电科技有限公司周边生态环境状况好。甘肃纳米粒度分析仪哪家好

一般离心式分析仪的动态范围为40，但是CPS系统的动态范围可以超过1000。过去很多需要消耗整夜时间而且低精度的测量，现在可以使用示差沉降法快速测量，而得到高精度的结果。低噪声光源/检测头：CPS纳米粒度分析仪的光学系统和电路经过精心设计以降低信号中的噪声，信噪比通常为50000左右，低噪声使得系统具有很高的灵敏度，可检测窄峰的重量通常小于0.01微克，这使得对于微克样品的常规高精度分析变得可行。CPS系统以合理的价格提供高精度、高动态范围和高灵敏度的粒度分析解决方案。甘肃纳米粒度分析仪哪家好驰光机电具有一支经验丰富、技术力量过硬的专业技术人才管理团队。

CPS纳米粒度分析仪样本分散系统：自动液体循环、干粉分散器、粉料送样器、温度控制器、气溶胶控制器。粒度仪的较佳选择：EyeTech可以提供颗粒系统粒径、形状和浓度等方面的总体信息。具有多样化的功能，可以：监测动力学过程；提供标准的体积和数量分布的结果。激光和图像通道的结合：对球形、非球形及细长颗粒的精确定性分析；可同时测量粒径、粒形和浓度；多种模块配置可满足不同类型的干法及湿法检测需求；测量过程中可实时观察样品颗粒。

CMP(化学机械抛光)工艺中磨料颗粒的高精度粒径表征随着半导体工业飞速发展，电子器件尺寸缩小，要求晶片表面平整度达到纳米级。CMP工艺作为芯片制造业不可或缺的一个部分，其对于磨料的颗粒粒度表征要求十分重要。CMP过程中使用的磨料颗粒典型尺寸范围是10-200nm，其颗粒表征要求精确地确定纳米级颗粒的尺寸，因此高分辨率纳米粒度分析仪是磨料颗粒表征的完美解决方案。磨料对CMP工艺起着至关重要的作用！欢迎选用CPS纳米粒度分析仪为您完美解决磨料颗粒问题！驰光机电科技有限公司以创百年企业、树百年品牌为使命，倾力为客户创造更大利益！

系统配有冲洗系统，减少了由于系统污染引起的计划外停机维护时间。样品预处理系统：正确设计和操作样品调节系统是分析仪成功运行的关键。该系统基于现场经验针对这种复杂的工艺样品，专门为低维护操作而设计。低维护的固体颗粒分离器。不带过滤元件可将颗粒去除达到2-3微米，减少了维护量。先进的安全系统，保护分析仪免受高压影响和防止产品泄漏。简单校准。标准的引入是一种手工操作，只需使用注射器即可，不需要定期重新校准，无样本回收系统。欢迎各界朋友莅临参观。甘肃纳米粒度分析仪哪家好

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因此，需要对其粒径的分布进行测试。而目前对炭黑的粒径测量方法为差速沉淀法。由于常用的炭黑粒径比较均匀，在测试时粒径的分布常呈现正态曲线分布，但在裂解后炭黑中混有橡胶纤维，导致粒径变大，不同粒径炭黑的含量不同，不再呈现均匀的正态分布。造成样品的测试比较困难。美国CPS24000纳米粒度分析仪可以真实反映样品在溶液中的真实粒径分布状态，粒径测试结果的精确度只次于扫描电镜。主要特点如下：所需样品量少，每次只需要0.1ml，这在疫苗研发、化学合成方面具有较大的优势。甘肃纳米粒度分析仪哪家好