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克劳德高速数字信号测试实验室眼图测试测量方法编辑 播报眼图测试是高速串行信号物理层测试的一个重要项目。眼图是由多个比特的波形叠加后的图形，从眼图中可以看到:数字信号1电平、0电平，信号是否存在过冲、振铃，抖动是否很大，眼图的信噪比，上升/下降时间是否对称(占空比)。眼图反映了大数据量时的信号质量，可以直观地描述高速数字信号的质量与性能。传统眼图测量方法用中文来理解是8个字:“同步触发+叠加显示”，现代眼图测量方法用中文来理解也是8个字:“同步切割+叠加显示”。两种方法的差别就4个字:触发、切割，传统的是用触发的方法，现代的是用切割的方法。“同步”是准确测量眼图的关键，传统方法和现代方法同步的方法是不一样的。“叠加显示”就是用模拟余辉的方法不断累积显示。传统的眼图方法就是同步触发一次，然后叠加一次。每触发一次，眼图上增加了一个UI，每个UI的数据是相对于触发点排列的，每触发一次眼图上只增加了一个比特位。  眼图测试系统的参数和含义？多端口矩阵测试眼图测试DDR测试

    理论分析得到如下几条结论，在实际应用中要以此为参考，从眼图中对系统性能作一论述：（1）比较好抽样时刻应在“眼睛”张开比较大的时刻。（2）对定时误差的灵敏度可由眼图斜边的斜率决定。斜率越大，对定时误差就越灵敏。（3）在抽样时刻上，眼图上下两分支阴影区的垂直高度，表示比较大信号畸变。（4）眼图**的横轴位置应对应判决门限电平。（5）在抽样时刻，上下两分支离门限**近的一根线迹至门限的距离表示各相应电平的噪声容限，噪声瞬时值超过它就可能发生错误判决。（6）对于利用信号过零点取平均来得到定时信息的接收系统，眼图倾斜分支与横轴相交的区域的大小表示零点位置的变动范围，这个变动范围的大小对提取定时信息有重要的影响。 多端口矩阵测试眼图测试DDR测试眼图示波器系统及眼图测试方法？

高速的数字信号经过传输线传输后，信号的高频分量会丢失，信号的边沿会变形。如果信号的变形比较严重，就会影响后续信号边沿通过阈值点的时刻，这就是码间干扰造成的抖动。码间干扰造成信号抖动的一个例子。在码间干扰比较严重的情况下，当前比特跳沿过阈值点的时刻会和前几个比特有关，比如前面是连续的5个连0和只有一个0对于当前比特的影响是不一样的。

码间干扰抖动主要是由于阻抗不匹配或者传输线带宽不够等因素引起的。由于传输线对于信号中不同频率成分的损耗不一样，所以不同码型的变形程度可能不一样，因而造成的码间干扰抖动的大小也不一样。正因为码间干扰抖动的大小和发出的数据码型有关，所以码间干扰抖动属于一种数据相关的抖动。

2.眼宽的测量

眼宽反映的是眼图在水平方向张开的程度。其测量方法是先在眼图的交叉点位置对眼图的水平分布进行统计，根据直方图分布出现概率位置得到交叉点1和交叉点2的水平位置；然后再根据叉点附近的抖动分布情况各向内推3个西格玛，从而得到眼宽的测量结果

3眼图的抖动测量

眼图抖动反映的是信号的时间不确定性，抖动过大会减小信号眼宽。眼图的抖动是指眼图交叉点附近的信号的水平抖动，可以用RMS或者Peak值来衡量。

除此之外，还可以对眼图的上升时间。交叉点、幅度等进行测量，这些测量方法和前面所说过的波形参数测量差不多，只不过是针对眼图而不是单一波形进行测量。 眼图测试系统基础知识？

主要参数如下：（1）眼图张开的宽度决定了接收波形可以不受串扰影响而抽样再生的时间间隔。显然，比较好抽样时刻应选在眼睛张开比较大的时刻。（2）眼图斜边的斜率，表示系统对定时抖动（或误差）的灵敏度，斜率越大，系统对定时抖动越敏感。（3）眼图左（右）角阴影部分的水平宽度表示信号零点的变化范围，称为零点失真量，在许多接收设备中，定时信息是由信号零点位置来提取的，对于这种设备零点失真量很重要。（4）在抽样时刻，阴影区的垂直宽度表示比较大信号失真量。（5）在抽样时刻上、下两阴影区间隔的一半是小噪声容限，噪声瞬时值超过它就有可能发生错误判决。（6）横轴对应判决门限电平。数字信号在示波器上而显示的图形。多端口矩阵测试眼图测试DDR测试

高速信号眼图测试中夹具影响的校准？多端口矩阵测试眼图测试DDR测试

由于眼图是用一张图形就完整地表征了串行信号的比特位信息，所以成为了衡量信号质量的重要工具，眼图测量有时侯就叫“信号质量测试”。此外，眼图测量的结果是合格还是不合格，其判断依据通常是相对于“模板（Mask）”而言的。模板规定了串行信号“1”电平的容限，“0”电平的容限，上升时间、下降时间的容限。所以眼图测量有时侯又被称为“模板测试（MaskTest）”。模板的形状也各种各样，通常的NRZ信号的模板如图五和图八蓝色部分所示。在串行数据传输的不同节点,眼图的模板是不一样的，所以在选择模板时要注意具体的子模板类型。如果用发送端的模板来作为接收端眼图模板，可能会一直碰模板。但象以太网信号、E1/T1的信号，不是NRZ码形，其模板比较特别。当有比特位碰到模板时，我们就认为信号质量不好，需要调试电路。有的产品要求100%不能碰模板，有的产品是允许碰模板的次数在一定的概率以内。示波器中有测量参数可自动统计出碰到模板的次数。此外，根据“侵犯”模板的位置就能知道信号的哪方面有问题从而指导调试。如图九表明信号的问题主要是下降沿太缓，图十表明1电平和0电平有“塌陷”，可能是ISI问题导致的。多端口矩阵测试眼图测试DDR测试

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