ICT技术参数:1)较大测试点数表示设备较多能设多少个测试点。一般电阻、电容等元件只有两条引脚,每个元件只用两个测试点就够了。ICT有多个引脚,每条引脚都需要设一个测试点。元件越多,电路板越复杂,需要测试点越多。因此,测试仪需要足够多的测试点数。目前ICT的较大测试点数可达2048点,已足够用了。2)可测试的元器件种类早期的ICT只可以测试开、短路,电阻、电容、电感、二极管等较少种类的元器件,经不断改进,现在ICT已可以测试三极管、稳压管、光耦、IC等多种元器件。ict检测使用范围广,测量准确性高。ict在线测试治具品牌
如何保养ict测试针?1.针头:再有一些状况不是只用刷子清洁就可以,因此用其他种类的溶剂或清洁化剂将会是之后的替代方法。建议方法是只要清洁针头,就是从冶具上移除测试针,捆在一起只用针头泡在浅浅的清洁剂中大约五分种,用软毛擦试,移除残留物,然后晒干它,这样就可以安装回去继续测试。2.环境保养:测试环境是引起测试针脏的主要因素,空气在传播中的污染物,像灰尘会掉落在针头上引起接触问题,所以我们要对测试针的环境保养。ict在线测试治具品牌ICT就像一个“万用表”,可以对线路板上的线路和元件进行检测。
导致ICT测试冶具测试不良的原因分析:开路不良(常由探针接触不良所致),开路不良只针对某一短路群而言,例如:短路群:<1,4,10,12>,ICT测试冶具测试出1,10开路不良,表示PCB上测试点1与测试点10之间电阻大于55Ω(或55-85Ω),可以用万用表在PCB上的测试点上进行验证;可能原因:1)测试针坏掉,或针型与待测板上的测试点不适合;2)测试点上有松香等绝缘物品;3)某一元器件漏装、焊接不良、错件等;4)继电器、开关或变阻器的位置有变化;5)PCB上铜箔断裂,或ViaHole与铜箔之间Open。
导致ICT测试冶具测试不良的原因分析:ICT测试冶具在使用过程中有时候会出现不良现象,那么到底是哪些因素导致的呢?我们一起来分析一下。1.短路不良(短路不良要先处理,而开路不良常常由于探针接触不良所致)短路不良指两个点(不在同一短路群内,即本来应该大于25Ω(或25-55Ω))的电阻小于5Ω(或5-15Ω),可以用万用表在PCB上的测试点上进行验证;可能原因:1)连焊(应该在两个NET相关的焊接点上寻找);2)错件,多装器件;3)继电器、开关或变阻器的位置有变化;4)测试针接触到别的器件;5)PCB上铜箔之间短路。ICT测试点的要求有测试点不能被遮挡、覆盖,焊盘中心距离器件外框至少120mil。
ICT测试治具的盲点:(就是ICT无法准确测量的零件)1,当小电容与大电容并联时,小电容无法准确测量。2,当小电容与小电阻并联时,小电容无法被准确测量。3,当大电阻与大电容并联时,大电阻无法被准确测量。4,当小电感同二极管并联时,二极管无法准确测量。ICTTest主要是靠测试探针接触PCBlayout出来的测试点来检测,其主要的测试内容有以下几点:1,PCBA的线路开路,短路;2,电阻测试(欧姆定律R=U/I);3,电容,电感测试:a.恒定交流电压源测电容:交流电压一定Vs,Vs/Ix=Zc=1/2πfCx得:Cx=Ix/2πfVs;b.直流恒定电流源测电容:C=ΔT/ΔV*I;c.交恒定流电流源测电感:Vs/Ix=Zl=2πfLx得Lx=Vs/2πfIx将电感作为跳线测量。4,二极管,三极管测试:a.利用二极管正向导通压降,硅管约0.7V,锗管约0.2V,反向截止电压无穷大特性进行测试;b.对于稳压二极管可以测试其正向导通PN结压降,同时可以测试其反向稳压压降;c.把三极管两个PN结作为两个二极管进行测量。ICT治具测试的盲点:当小电容与小电阻并联时,小电容无法被准确测量。ict在线测试治具品牌
ICT治具关键控制点:ICT的测试内容需覆盖85%以上的电路。ict在线测试治具品牌
它主要检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况,ict测试过的故障板,因故障定位准,治具,维修方便,可大幅提高生产效率和减少维修成本。ict测试治具的工作原理:主要是靠测试探针接触PCB出来的测试点来检测PCB的线路。ict测试治具通常是生产中一道测试工序,能及时反应生产制造状况,FCT功能测试治具,利于工艺改进和提升,因其测试项目具体,是现代化大生产品质保证的重要测试手段之一。ICT测试治具能够将上面所的故障或信息以印表机印出测试结果,ict在线测试治具品牌