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ICT治具企业商机

ICT测试治具能检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况。能够定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量,对二极管、三极管、光藕、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试,对中小规模的集成电路进行功能测试,它通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏,Memory类的程序错误等。对工艺类可发现如焊锡短路,元件插错、插反、漏装,管脚翘起、虚焊,PCB短路、断线等故障。测试的故障直接定位在具体的元件、器件管脚、网络点上,故障定位准确。ICT测试治具的钻孔文件的一些常规表示:1.T1表示100MIL的探细孔;2.T2表示75MIL的探细孔;3.T3表示50MIL的探细孔;4.T4表示板内定位柱以及板外挡位柱5.T5板外表示档位块,板内要注意看情况而定注意看刀具大小;注:钻孔前拿点图对照编好的文件自检一下,大概位置,有无钻反。保护板的表示方法:会在各种颜色的同层表示要铣的深度。ICT治具验收审核标准:外型尺寸是否和要求一致,即长,宽,高(行程)。无锡ICT自动化测试仪器报价

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如何保养ict测试针?1、污渍清洁:为了不影响测试针管和侵害测试针内壁的接触面,从而导致阻抗的过速上升的情况,较好不要使用溶剂清洁测试针或使用溶剂浸泡来进行污渍清洁。2、测试针清洁:保持测试针在清洁的状态下是很有效的方法来大地减低失败率。3、防尘套:有不少的治具厂都会提供防尘套以用来预防空污物掉落在测试针头与针管上,在真空的治具里,灰尘容易掉进测试针。4、擦拭:使用防静电刷是很安全和快速的方法。金属刷可能会损害针头或镀层,造成不顺利的测试结果。无锡ICT自动化测试仪器报价ICT测试点的要求有测试点的焊盘大小至少要有28mil,较好在35mil以上,建议设计为1mm。

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ICT测试治具的产生是为了提高生产力、重复特定动作、或使工作更加精确。治具的设计基本上是建立于逻辑,类似的治具可能会因为使用于不同的时间和地点而分别产生。测试治具可以分为几个种类,包括ICT测试治具,功能测试治具,FCT测试治具等几个类别。ICT测试治具有单面双面之分,通用天板方便交换机种,使用可调培林座,容易保养,使用压克力&电木&FR-4材质(或指定),直接gerber文件处理生成钻孔文件,保证钻孔精度。测试程式自动生成,避免手工输入出错之可能适用于tri、jet、newsys、okano、tescon、takaya、gwposhell、src、concord,PTI816等ICT机型。两被测点或被测点与预钻孔之中心距不得小于0.050"(1.27mm)。以大于0.100"(2.54mm)为佳,其次是0.075"(1.905mm)。治具的测试点分布也尽量均匀,保证压上后板子不变型,以免造成产品的损坏。

ICT测试治具能够检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况。能够定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量,对二极管、三极管、光藕、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试,对中小规模的集成电路进行功能测试,如所有74系列、Memory类、常用驱动类、交换类等IC。可通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏,Memory类的程序错误等。对工艺类可发现如焊锡短路,元件插错、插反、漏装,管脚翘起、虚焊,PCB短路、断线等故障。测试的故障直接定位在具体的元件、器件管脚、网络点上,故障定位准确。对故障的维修不需较多专业知识。采用程序控制的自动化测试,操作简单,测试快捷迅速,单板的测试时间一般在几秒至几十秒。ICT治具用来测试电路板上元器件是否正确及其参数、电路便装配是否正确的测试仪器。

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测试治具探针的选择:测试治具,压床式的测试治具,一般都会用到探针,所以在测试治具设计时,探针的选择非常重要。治试治具的探针,已经做的标准化了,如大小、长度、高度、行程等,都有一系列的数值参数。所以我们要做的就像选择螺丝一样,只能选择探针的型号规格,而不能想当然的想要多少就要多少,想要哪类就要哪类。一般来说,探针的型号,测试治具很重要的是探针的直径大小。探针的大小用mil为单位的,此单位为英制的。单位的换算为100mil=2.54mm=0.1in。ICT测试治具能够先期找出制程不良所在如线路短路、断路、组件漏件、反向、错件、空焊等不良问题。无锡ICT自动化测试仪器报价

故障位置、零件规范值、测试值,ICT能够将上述故障或不良资讯以印表机印出测试结果。无锡ICT自动化测试仪器报价

如何降低ICT测试治具的成本问题:测试治具的测试成本主要是测试设备选择与制作材料的成本。根据数据显示,若用于高密度板,当平均产量小于150平方公尺以下时,ICT测试治具测试成本将会高于$200(18%)以上,这已经不是一般生产所能承担的成本。但是随着电子产品的变化速度加快,使得单一电路设计版本的产品生命周期变短,因此电子产品的发展趋势将是ICT测试治具厂商在选购测试设备时,不容忽视的一个课题。1、从设计测试方法和工艺策略中节约成本。当设计一个测试方法和工艺策略时,必须考虑到无数的变量,这时就要根据不同的情况选择不同的测试方法与制作方法。2、设备选择与成本控制的关系。不同厂家有不同的订单结构,订单结构在很大程度上制约着设备选择。小测试大的优点是市场反应速度快,成本特低,但检测速度慢,一般检测一个出货单元需三至十几分钟,适合测试样板和小批量订单。若是客户要求打样品,则可选择小测试,直到客户做批量订单时再改做治具测试,这样免去了客户更改过程或撤销订单中治具制作成本。无锡ICT自动化测试仪器报价

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